Keysight 8720C Mikrowellen-Vektor-Netzwerkanalysator
Keysight 8720C Microwave Vector Network Analyzer
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Der Keysight 8720C ist ein Tisch-Vektor-Netzwerkanalysator mit 50 MHz bis 20 GHz Abdeckung mit integriertem S-Parameter-Testsatz und Farbdisplay für HF-Komponenten-Charakterisierung.
Produktdetails
| Modell | 8720C |
| Hersteller | Keysight |
| Kategorie | Vektornetzwerkanalysatoren |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Überblick
Der Keysight 8720C ist ein Tisch-Vektor-Netzwerkanalysator zur Charakterisierung von HF- und Mikrowellen-Komponenten von 50 MHz bis 20 GHz. Er kombiniert schnellen Frequenzsynthesizer, integriertes S-Parameter-Testsatz, gestimmten Empfänger und großes Farbdisplay in einem Instrument, ideal für Forschung und Entwicklung, Fertigung, Eingangsinspektion und Qualitätssicherungs-Anwendungen.
Hauptmerkmale
- Schneller Frequenzsynthesizer mit optionaler 1 Hz Frequenzauflösung
- Integriertes Schalter-Testsatz misst alle vier S-Parameter mit einzelnem Anschluss
- Vektor-Genauigkeits-Verbesserung
- Optionale Time-Domain-Funktion für Antwort-Analyse versus Zeit oder Entfernung
- Optionales Solid-State-Umschalt für gleichzeitige Messung von Vor- und Rückwärts-Parametern
- Pass/Fail-Tests mit fortgeschrittenen Marker-Funktionen
- Zwei unabhängige Display-Kanäle für gleichzeitige Reflexions- und Transmissions-Messungen
- Direkte Drucker-/Plotter-Ausgabe und Speichern/Abrufen von Test-Konfigurationen
Anwendungen
- Forschung und Entwicklung von HF-/Mikrowellen-Komponenten
- Fertigungs-Tests und Qualitätssicherung
- Eingangsinspektion von Komponenten
- Geräte-Charakterisierung und S-Parameter-Messung
Technische Daten
| Frequency Range | 50 MHz to 20 GHz |
| Instrument Type | Vector Network Analyzer |
| S-Parameters Measured | S11, S12, S21, S22 (all four parameters) |
| Test Set | Integrated switching test set |
| Sweep Type | Fast-sweeping synthesized source |
| Frequency Resolution | 1 Hz (optional) |
| Display | Dual-channel large color display |
| Time Domain Analysis | Optional capability |
| Accuracy Enhancement | Vector accuracy enhancement |
| Testing Modes | Pass/fail testing with advanced marker functions |
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