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Hioki IM3570 Impedanz-Analysegerät

Hioki IM3570 Impedance Analyzer

Hioki · Modell: IM3570 Auf Anfrage
Hioki IM3570 Impedanz-Analysegerät
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Das Hioki IM3570 Impedanz-Analysegerät kombiniert LCR-, DCR- und Sweep-Messungen mit 4 Hz bis 5 MHz Frequenzbereich und ±0,08% Genauigkeit in einem kompakten Gerät.

Modell IM3570
Hersteller Hioki
Kategorie LCR-Messgeräte
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Überblick

Das Hioki IM3570 Impedanz-Analysegerät ist ein Multifunktions-Messinstrument, das LCR-, DCR (Gleichstromwiderstand) und Frequenz-Sweep-Funktionen in einem Gerät konsolidiert. Das Analysegerät ist für Hochgeschwindigkeitskontinuumstest konzipiert und ermöglicht es Inspektionsanlagen, die zuvor mehrere Geräte benötigten, mit nur einem Gerät zu betreiben.

Mit Messfrequenzen von 4 Hz bis 5 MHz, Testsignalpegeln von 5 mV bis 5 V und Testgeschwindigkeiten von bis zu 0,5 Millisekunden bei 100 kHz ist das IM3570 ideal für die Charakterisierung von Resonanz in piezoelektrischen Elementen, Niedrig-ESR-Kondensatoren und Induktor-Gütefaktor.

Hauptmerkmale

  • Messmodi: LCR, DCR, Sweep und Kontinuierlich
  • Frequenzbereich: 4 Hz bis 5 MHz mit variablen Testsignalpegeln (5 mV bis 5 V)
  • Testgeschwindigkeit: 1,5 ms bei 1 kHz, 0,5 ms bei 100 kHz
  • Grundgenauigkeit (Z-Parameter): ±0,08%
  • Analysator-Modus: Frequenz-Sweeps, Pegelsweeps und Zeitintervallmessungen
  • Hochgeschwindigkeit-Bedingungsumschaltung: Schnelle Änderung der Messparameter zwischen Tests
  • Resonanzcharakteristik-Analyse: Evaluierung von piezoelektrischen Elementen
  • Niedrig-ESR-Messung: Funktionspolymerkondensator-Tests
  • Induktor-Tests: DCR- und L-Q-Messung von Spulen und Transformatoren

Anwendungen

  • Resonanzcharakteristik-Analyse von piezoelektrischen Elementen
  • Niedrig-ESR- und C-D-Messung von Funktionspolymerkondensatoren
  • Induktor DCR- und L-Q-Messung für Spulen und Transformatoren
  • Hochgeschwindigkeit-automatisierte Komponentencharakterisierung in der Produktion
  • Forschung und Entwicklung von Elektronikkomponenten
  • Qualitätssicherungs-Tests mit mehreren Messbedingungen
Measurement Modes LCR, DCR, Sweep, Continuous
Frequency Range 4 Hz to 5 MHz
Test Signal Level 5 mV to 5 V
Test Speed (1 kHz) 1.5 ms
Test Speed (100 kHz) 0.5 ms
Basic Accuracy (Z parameter) ±0.08%
Analyzer Functions Frequency sweep, Level sweep, Time interval measurement
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