Siglent SDS6108L Digitales Speicheroszilloskop

Übersicht

Das Siglent SDS6108L ist ein 8-Kanal-Digitales Speicheroszilloskop mit 1GHz Low-Profile, konzipiert für Hochgeschwindigkeits-Signalanalyse und Tests. Es bietet bis zu 8 analoge Kanäle plus 16 optional digitale Kanäle in einem platzsparenden Gehäuse, ideal für komplexe Mixed-Signal-Anwendungen und erweiterbare Multi-Kanal-Erfassungssysteme.

Mit maximaler Abtastrate von 5 GSa/s (10 GSa/s ESR), 500 Mpts Datensatzlänge und Wellenform-Erfassungsraten bis zu 170.000 Wellenformen pro Sekunde im Normalmodus (750.000 wfm/s im Sequenzmodus), bietet dieses Oszilloskop hervorragende Fähigkeiten zum Erfassen und Analysieren transienter Ereignisse und schneller Signalvariationen.

Wichtige Funktionen

• 8 analoge Kanäle plus 1 externer Triggereingang, erweiterbar auf 512 Kanäle via Synchronisierungs-Verteiler
• 1 GHz Bandbreite mit 5 GSa/s (10 GSa/s ESR) Abtastrate pro Kanal und 0,5 mV/div bis 10 V/div vertikale Empfindlichkeit
• SPO-Technologie mit 256-stufiger Intensitätsabstufung und Farbtemperatur-Anzeigemodi
• Intelligente Triggerung: Edge, Slope, Pulse, Window, Runt, Interval, Dropout, Pattern, Qualified, Nth edge, Setup/Hold, Delay und Video Triggering
• Serieller Bus Dekodierung für I2C, SPI, UART, CAN, LIN, CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT und Manchester Protokolle
• History Wellenform Aufzeichnung mit bis zu 80.000 Bilder maximale Länge
• 50+ automatische Messungen mit Statistiken, Histogramm, Track, Trend und Gating-Fähigkeiten
• 4 Math Spuren mit 8 Mpts FFT, Formelbearbeiter und umfangreiche mathematische Operationen
• 25 MHz Funktionsgenerator mit mehreren vordefinierten Wellenformen
• Mehrere Schnittstellen: USB Host/Device (USBTMC), 1000M LAN (VXI-11/Telnet/Socket), micro SD Karte, HDMI und 10 MHz I/O

Anwendungen

• Digital- und Analog-Schaltungs-Debugging und Verifizierung
• Signal Integrity und Timing-Analyse
• Stromversorgung und Power Delivery Network Tests
• Hochgeschwindigkeits-Serielles Protokoll-Analyse und Debugging
• Bildungs- und F&E-Anwendungen in Elektronik-Ingenieurwesen
• Herstellung und automatisierte Test-Umgebungen