Siglent SDS6054L Digitales Speicheroszilloskop

Übersicht

Siglent SDS6054L ist ein 4-Kanal digitales Speicheroszilloskop in der flachen SDS6000L-Serie und für Arbeitstisch- und Systemintegrationsanwendungen konzipiert. Mit 500-MHz-Bandbreite, 5-GSa/s-Abtastrate und 500-Mpts Aufzeichnungslänge bietet es umfassende Signalanalysefunktionen in einem kompakten Gehäuse.

Wichtigste Merkmale

• 4 analoge Kanäle plus 1 externer Auslöser, erweiterbar auf Multi-Unit-512-Kanalsysteme
• 500-MHz-Bandbreite mit 5-GSa/s-Abtastrate (10-GSa/s ESR) pro Kanal
• Geringes Hintergrundrauschen mit Vertikalskalen von 0,5 mV/div bis 10 V/div
• SPO-Technologie mit bis zu 170.000 Wellenformen/s (normaler Modus) und 750.000 Wfm/s (Sequence-Modus)
• 256-Ebenen-Intensitätsverlauf und Farbtemperatur-Anzeigemodi
• 500-Mpts Gesamtaufzeichnungslänge
• Intelligente Auslösermodi: Edge, Slope, Pulse, Window, Runt, Interval, Dropout, Pattern, Qualified, Nth edge, Setup/hold, Delay und Video (HDTV)
• Serialbus-Auslösung und -Decodierung: I2C, SPI, UART, CAN, LIN, CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester
• Segmentierte Erfassung (Sequence) mit bis zu 80.000 Segmenten und minimaler Totzeit
• Verlauf-Wellenformaufzeichnung bis zu 80.000 Frames
• Über 50 automatische Messungen mit Histogramm, Verfolgung, Trend und Gating-Analyse
• 4 mathematische Spuren mit 8-Mpts FFT und Formel-Editor-Unterstützung
• Fortgeschrittene Analyse: Suche, Navigation, Digital-Voltmeter, Zähler, Wellenform-Histogramm, Leistungsanalyse, Auge-/Jitter-Analyse
• Optionale 16 digitale Kanäle für Mixed-Signal-Analyse
• 25-MHz-Arbiträre-Wellenform-Generator mit mehreren vordefinierten Wellenformen
• Schnittstellen: 4x USB Host, USB Device (USBTMC), 1000-M LAN (VXI-11/Telnet/Socket), micro SD, Pass/Fail, Trigger Out, HDMI, 10-MHz In/Out
• Eingebauter Web-Server und SCPI-Unterstützung für Remote-Steuerung und automatisierte Tests

Anwendungen

• Elektronik-Prototyping und -Verifizierung
• Serialprotokoll-Debugging und -Analyse
• Leistungselektronik-Tests
• Signalintegritäts- und Jitter-Messung
• Automatisierte Testsysteme via SCPI
• Multi-Unit-Hochgeschwindigkeits-Erfassungssysteme