Siglent SDS5036X HD Digitales Oszilloskop

Übersicht

Das Siglent SDS5036X HD ist ein 12-Bit, 6-Kanal High-Resolution Digitalspeicher-Oszilloskop, das für fortgeschrittene Signalanalyse und komplexe Multi-Kanal-Messungen entwickelt ist. Mit 350 MHz Bandbreite und 5 GSa/s Abtastrate mit bis zu 2,5 Gpts Speicher pro Kanal bietet es außergewöhnliche Signalklarheit und Detail. Der HD 1280×800 Kapazitiv-Touchscreen, Multi-Fenster-Anzeige und umfassende Konnektivitätsoptionen machen es ideal für Laborumgebungen, die gleichzeitige Analyse mehrerer Signale erfordern.

Hauptmerkmale

• 12-Bit ADC (Analog-Digital-Konverter) mit niedriger Rauschgrenzfläche (140 μVrms @ 1 GHz typisch)
• 350 MHz Bandbreite mit 6 analogen Kanälen plus externem Trigger
• 5 GSa/s Echtzeit-Abtastung mit 2,5 Gpts maximale Wellenformlänge pro Kanal
• 160.000 Wellenformen/s Erfassungsrate im normalen Modus (650.000 Wfm/s im Sequenzmodus)
• Intelligente Auslösemodi: Flanken-, Steigungen-, Impuls-, Fenster-, Runt-, Intervall-, Ausfall-, Muster-, qualifizierte, Nth-Flanken-, Setup/Hold-, Verzögerungs- und Video-Trigger mit Zonen-Trigger-Fähigkeit
• Serien-Bus-Auslösung und Dekodierung für I2C, SPI, UART, CAN, LIN, CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester und ARINC429
• 60+ automatisierte Messungen mit Statistik-, Histogramm-, Track-, Trend- und Gating-Analyse
• 8 mathematische Spuren mit 8 Mpts FFT, Filterung, Arithmetik-Operationen, Integration, Differenziation und Formel-Editor
• Wellenformverlaufs-Aufzeichnung mit bis zu 170.000 Bilder-Kapazität für erweiterte Ereigniserfassung
• Segmentierte Erfassungs-(Sequenz-)Modus zum Auslösen und Erfassen mehrerer qualifizierender Ereignisse
• Leistungsanalyse, Dreiphasen-Leistungsmessung, Bode-Diagramm-Generierung und Hardware-basierter Masken-Test
• Optionale 16 digitale Kanäle (SPL2016 Sonde) für Logic und Mixed-Signal-Analyse
• USB 3.0 Host/Device, 1000M LAN, HDMI-Ausgang und 10 MHz Referenz-Ein-/Ausgang
• Eingebauter Webserver für Fernsteuerung und externe Maus-/Tastatur-Unterstützung

Anwendungen

• Charakterisierung von Breitspalt-Halbleitern (SiC, GaN) mit hochfrequenter Übergangerfassung
• Analyse von Dreiphasen-Stromversorgungssystemen und Leistungselektronik-Prüfung
• Multi-Kanal-Signalerfassung für Automobil- und Industrie-Diagnostik
• Komplexe Protokoll-Analyse mit gleichzeitiger digitaler und analoger Messung
• Fortgeschrittene Forschung und Entwicklung in Signalintegrität und EMI/EMC-Prüfung
• Bildungslabor und Forschungsanlagen-Instrument

Zubehör inbegriffen

• 1 passive Sonde pro Kanal (6 insgesamt)
• USB-Kabel
• Kabellose Maus
• Stromkabel
• Schnellstart-Anleitung
• Kalibrierzertifikat