Keithley KTH 2470 SourceMeter-Instrument

Übersicht

Das Keithley KTH 2470 SourceMeter-Instrument ist eine Quellenmesseinheit (SMU) der nächsten Generation, die Präzisionsmessfähigkeit bis 1100V, 1A, 20W mit einem intuitiven kapazitiven Touchscreen-Interface kombiniert. Optimiert für die Charakterisierung und Prüfung von Hochspannungs-, Niedrigleckstrom-Geräten wie Siliziumkarbid (SiC), Galliumnitrid (GaN), Power-MOSFETs und Leistungsmodule nutzt das 2470 Jahrzehnte Keithley-Expertise, um sowohl Präzision als auch Benutzerfreundlichkeit in Labor- und Testrack-Umgebungen bereitzustellen.

Hauptmerkmale

• 0,012% Basis-Messgenauigkeit mit 6½-stelliger Auflösung
• 1100V / 1A DC Maximalfähigkeit mit 10 fA Messauflösung
• Fünf-Zoll Farbkapazitiv-Touchscreen mit symbolgestützter Menüstruktur
• Vier-Quadranten-Quelle und Senk-Betrieb
• Mehrere Programmiermodi: TSP-Scripting und 2450 SCPI-Kompatibilität
• Eingebaute kontextsensitive Hilfe, die Konfigurationsschritte um 50% reduziert
• Front-Panel-Bananenstecker und Rear-Panel-Triaxialverbindungen
• Umfassende Konnektivität: GPIB, USB 2.0, LXI/Ethernet, D-sub 9-Pin Digital-E/A

Anwendungen

• Charakterisierung von Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) Halbleiterbauelementen
• Power-MOSFET und Überspannungsschutz-Bauelement-Tests
• Schaltungsschutz-Bauelement und Leistungsmodul-Bewertung
• Batterie- und Materialprüfung mit Hochspannungs-, Niedrigleckstrom-Anforderungen
• I-V-Charakterisierung und Bauelement-Parametrische Prüfung

Enthaltenes Zubehör

• Hochleistungs-Testleitungen
• USB-Typ B zu Typ A Kabel
• CS-1616-3 Sicherheits-Verriegelungs-Paarungsstecker
• CA-180-3A TSP-Link/Ethernet-Kabel
• Schnellstartanleitung und herunterladbare Dokumentation