Tektronix EMI-NF-PROBE Nahfeldsonden-Set
Tektronix EMI-NF-PROBE Near Field Probe Set
Tektronix EMI-NF-PROBE Nahfeldsonden-Set für EMV-Vorkomplianz-Tests bis 6 GHz mit geschirmten Schleifen und isolierter Gummibeschichtung.
Beschreibung
Übersicht
Das Tektronix EMI-NF-PROBE ist ein Magnetfeld- und Elektrisches-Feld-Sonden-Set für bestrahlte Emissionen EMV-Vorkomplianz-Messungen. Dieses Sonden-Set wird im Nahfeld von elektromagnetischen Strahlungsquellen verwendet, um potenzielle Interferenzquellen in elektronischen Baugruppen zu lokalisieren und zu identifizieren. Die Sonden wirken wie Breitband-Antennen und erfassen bestrahlte Emissionen von Komponenten, Leiterplatten-Spuren, Gehäuseöffnungen und anderen Teilen, die RF-Energie abstrahlen könnten, und sind typischerweise mit einem Spektrumanalysator verbunden.
Hauptmerkmale
- Maximale Frequenz: 6 GHz
- Schlankes Design für guten Zugang in eng beisammen liegenden Komponenten
- Geschirmte Magnetfeld- und Elektrisches-Feld-Schleifen
- Isoliert mit Gummibeschichtung für sichere Handhabung
- Unempfindlich gegen Handnähe
Anwendungen
- Bestrahlte EMV-Messung
- RF-Immunititstests
- Kontaktlose relative Messung von RF-Signalketten
- Kontaktlose relative Messung von Oszillatoren und Modulatoren
Technische Daten
| High Frequency (range) | 1GHz <= 10GHz |
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Tektronix EMI-NF-PROBE Nahfeldsonden-Set