Tektronix CR286A Uhrenrückgewinnungs-Instrument
Tektronix CR286A Clock Recovery Instrument
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Tektronix CR286A Uhrenrückgewinnungs-Instrument zum Jitter-Test mit variabler Schleifenbandbreite (100 kHz–12 MHz) und Unterstützung für Datenraten bis 28.6 Gb/s.
Produktdetails
| Modell | CR286A |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | HF- und Mikrowellen-Testausrüstung |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Das Tektronix CR286A ist ein hochleistungs-Uhrenrückgewinnungs-Instrument, das die Frequenzreaktion der Phase-Locked-Loop (PLL) von 100 kHz bis 12 MHz misst und anzeigt und die höchste auf dem Markt verfügbare Schleifenbandbreite für Jitter-Tests bietet. Das CR286A bietet vollständige Kontrolle über kritische PLL-Parameter einschließlich Schleifenbandbreite, Peaking/Damping und Roll-Off-Merkmale und ist ideal für Standard-Konformitätstests in Next-Generation-Serien-I/O-Anwendungen.
Hauptmerkmale
- Variable Schleifenbandbreite von 100 kHz bis 12 MHz (optional 24 MHz für Jitter-Transferfunktions-Analyse)
- Genaue, einstellbare, selbstvermessene und angezeigte PLL-Schleifenbandbreite und Peaking
- Programmierbare Peaking-Einstellung mit First- und Second-Order-Roll-Off-Fähigkeit
- Vollständige und geteilte Uhrausgänge mit wählbaren Teilerverhältnissen bis 14.3 Gb/s
- Eingebauter Equalizer mit 0 bis 10 dB Equalisierungsbereich für Rückgewinnung unter hohen ISI-Bedingungen
- Datenmessungsfähigkeiten einschließlich Edge-Dichte und Spread-Spectrum-Wellenformanalyse
- Eingangsempfindlichkeit: 100 mV Single Ended, 50 mV Differenziell (typisch)
- Datenraten-Abdeckung von 150 Mb/s bis 28.6 Gb/s
- USB-Steuerungsschnittstelle in BERTScope integriert oder eigenständiger Betrieb
- Optionale direkte Spektralanalyse und frequenzgesteuerte Messungen
Anwendungen
- Jitter-Messung und Analyse für hochgeschwindigkeits-Serien-Standards (PCIe Gen 3, SATA 6G, USB 3.0)
- Spread-Spectrum-Clock (SSC) Charakterisierung mit großen Frequenzausschlägen
- Uhrenrückgewinnung für 10GBASE-KR, 16xFC, 25/28 G CEI und 100GBASE Standards
- Signalintegritäts-Tests für Next-Generation-I/O-Schnittstellen
Technische Daten
| Input Sensitivity | 100 mV single ended (typical), 50 mV differential (typical) |
| Input Data Rate Coverage | 150 Mb/s to 28.6 Gb/s |
| Data Insertion Loss | 2.0 dB (min), 2.6 dB (typical), 3.0 dB (max) up to 12.5 Gb/s |
| Data Input Voltage Range | -5 V to +5 V |
| Measured Edge Density Accuracy | ±1% up to 14.3 Gb/s, ±3% above 14.3 Gb/s |
| Loop Bandwidth Range | 100 kHz to 12 MHz (optional 24 MHz) |
| Equalization Range | 0 to 10 dB |
| Full-Rate Clock Output | Up to 14.3 Gb/s |
| Half-Rate Clock Output | 14.3 Gb/s to 28.6 Gb/s |
| Data Output | Up to 12.5 Gb/s |
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