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Microsemi 53100A Phasenrausch-Analysator

Microsemi 53100A Phase Noise Analyzer

Microsemi · Modell: 53100A Auf Anfrage
Microsemi 53100A Phasenrausch-Analysator
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Der Microsemi 53100A misst Amplitude, Phase und Frequenzstabilität von HF-Quellen von 1 MHz bis 200 MHz mit fortgeschrittenem SSB-Phasenrausch und Allan-Abweichungs-Messungen.

Modell 53100A
Hersteller Microsemi
Kategorie HF- und Mikrowellen-Testausrüstung
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Übersicht

Der Microsemi 53100A ist ein Präzisions-Oszillatorcharakterisierungs-Instrument zur Messung von Amplitude, Phase und Frequenzstabilität hochperformanter HF-Quellen. Mit Trägerfrequenzen von 1 MHz bis 200 MHz bietet er umfassende Stabilitätsanalyse bei Zeitskalen von Femtosekunden bis Tagen, geeignet für Bank- und eingebettete Rack-Mount-ATE-Systeme.

Hauptmerkmale

  • Allan-Abweichung (ADEV) typischerweise kleiner als 5E-15 bei t=1s, 1E-16 bei t=1000s
  • Modifizierte Allan-Abweichung (MDEV), Hadamard-Abweichung (HDEV) und Zeit-Abweichung (TDEV)
  • Single-Sideband (SSB) Phasenrausch und AM-Rausch-Messungen bei Offsets von 0.001 Hz bis 1 MHz, typischerweise unter -175 dBc/Hz
  • RMS-integriertes Zeit-Jitter, residuelle FM und SSB Träger-/Rausch-Verhältnis
  • Unabhängige Eingangs- und Referenzfrequenzen von 1 bis 200 MHz
  • Keine Phasenblocksperrung oder Messkalibrierung erforderlich
  • Einzelne oder duale Referenzoszillator-Eingänge für Kreuzkorrelationsmessungen
  • Emulation von TSC 51XXA-Befehlen und Datenstrom für Kompatibilität mit älteren Test-Scripts
  • Intuitive grafische Benutzeroberfläche
  • Messungen über 200 MHz mit externer Frequenzkonvertierung unterstützt

Anwendungen

  • Oszillator-Charakterisierung und Validierung
  • HF-Quellen-Frequenzstabilitätstests
  • Hochpräzisions-Frequenzzähler-Anwendungen
Frequency Range 1 MHz to 200 MHz
Allan Deviation (ADEV) at 1s < 5E-15
Allan Deviation (ADEV) at 1000s 1E-16
Phase Noise Floor Typically -175 dBc/Hz
Offset Range for Phase Noise 0.001 Hz to 1 MHz
Measurements Supported SSB phase noise, AM noise, MDEV, HDEV, TDEV, time jitter, residual FM
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