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Keysight B1500A Halbleiter-Geräteanalysator

Keysight B1500A Semiconductor Device Analyzer

Keysight · Modell: B1500A Auf Anfrage
Keysight B1500A Halbleiter-Geräteanalysator
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Keysight B1500A Halbleiter-Geräteanalysator bietet umfassende Strom-Spannungs (IV)-, Kapazitäts-Spannungs (CV)- und gepulste Messungen für vollständige Gerätecharakterisierung.

Modell B1500A
Hersteller Keysight
Kategorie HF- und Mikrowellen-Testausrüstung
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Übersicht

Der Keysight B1500A ist ein umfassender Halbleiter-Geräteanalysator für die vollständige elektrische Charakterisierung von der Grundlagenforschung bis zur fortgeschrittenen Produktionsprüfung. Seine modulare Architektur unterstützt bis zu zehn Messiodule und ermöglicht eine Konfiguration für spezifische Anforderungen und Upgrade-Möglichkeiten, wenn sich die Messanforderungen weiterentwickeln.

Messfähigkeiten

  • Strom-Spannungs (IV)-Messungen: Punkt-, Sweep-, Sampling- und Pulsmodi mit Strombereich 0,1 fA bis 1 A und Spannungsbereich 0,5 µV bis 200 V
  • AC-Kapazitätsmessungen von 1 kHz bis 5 MHz mit Quasi-Static Capacitance-Voltage (QS-CV)-Fähigkeiten
  • Gepulste IV-Messungen mit 5 ns minimalem Abtastintervall (200 MSa/s Abtastrate)
  • Hochspannungs-Pulsforcierung bis 40 V für Nichtflüchtig-Speicher-Charakterisierung

Hardware & Schnittstelle

  • 15-Zoll-Touchscreen mit eingebetteter Windows 7-Plattform
  • GPIB-, USB-, LAN-Schnittstellen für Systemintegration
  • VGA-Videoausgangsanschluss
  • Modulare Konstruktion mit zehn verfügbaren Steckplätzen für Messiodule

Software (EasyEXPERT-Gruppe+)

Die integrierte Charakterisierungsumgebung läuft auf der eingebetteten Plattform des Mainframe oder auf externen PCs. Mehrere Betriebsmodi – Anwendungstests, klassische Tests, Tracing-Tests, Schnelltests und Oszilloskop-Ansicht – bieten flexible Messaufbauten. Automatisierte Analyse, grafische Anzeige und Datenverwaltungsfunktionen erleichtern die effiziente Gerätebewertung und Berichterstattung. Ergebnisse können in Excel- und Bildformate exportiert werden.

Anwendungen

  • Halbleitergerat-Charakterisierung und -Bewertung
  • Prüfung aktiver und passiver elektronischer Komponenten
  • Materialcharakterisierung und -Analyse
  • Bewertung von Nichtflüchtig-Speicher-Geräten
  • Wafer-Ebenen-Gerätestests mit Prober-Integration
High Frequency (range) 1MHz <= 10MHz
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