NH Research 4350-150 DC Elektronische Last
NH Research 4350-150 DC Electronic Load
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Der NH Research 4350-150 ist eine 150W modulare DC-Elektroniklast mit Betrieb bis 500V, entwickelt für Tests von Ladegeräten, LED-Treibern und Solarpanels.
Produktdetails
| Modell | 4350-150 |
| Hersteller | NH Research |
| Kategorie | Stromversorgungen und elektronische Lasten |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Der NH Research 4350-150 ist eine modulare DC-Elektroniklast, die für flexible Tests von Stromversorgungen, LED-Treibern, Ladegeräten und erneuerbaren Energiesystemen entwickelt wurde. Als Teil der 4300-Serie kann diese 150W Last mit bis zu 16 Einheiten in einem einzelnen Gehäuse konfiguriert werden, um Multi-Geräte-Paralleltestszenarios zu simulieren.
Hauptmerkmale
- 150W Leistungsnennwert bei maximaler Betriebsspannung von 500V
- Modulares Design ermöglicht Kaskadenbildung von bis zu 16 Lasten in einem einzelnen 4300 Gehäuse
- Frontmontierte Verbindungen mit frontseitiger Komponentenzugriff
- Drei Spannungs- und drei Strombereiche für optimierte Messgenauigkeit
- Hochauflösende Wellenformerkennung für Transientanalyse
- Isolierte digitale Ein- und Ausgänge für Testvorrichtungsintegration
- PC/LAN-Steuerung mit LabVIEW- und IVI-Treiberunterstützung
- Verfügbar in drei Leistungsnennwerten: 150W, 300W und 600W
Anwendungen
- Stromversorgungstests und -Charakterisierung
- LED-Treiber-Effizienz- und Stabilitätstests
- Ladegeräte-Tests und -Validierung
- Solarpanel- und Erneuerbare-Energiesystem-Tests
- Multi-Output-Stromversorgungstests über Parallelbonfiguration
- Produktions- und Qualitätskontrolltests
Technische Daten
| Power Rating | 150W |
| Maximum Voltage | 500V |
| Voltage Ranges | 3 selectable ranges |
| Current Ranges | 3 selectable ranges |
| Modular Configuration | Up to 16 units in single 4300 chassis |
| Connection | Front-loaded with front access |
| Control Interface | PC/LAN with LabVIEW and IVI drivers |
| Digital I/O | Isolated inputs and outputs |
| Waveform Capture | High-resolution for transient analysis |
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