Tektronix DSA8300 Digitales Sampling-Analysator-Oszilloskop
Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope
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Das Tektronix DSA8300 ist ein Hochgeschwindigkeits-Digital-Abtastoszilloskop für optische und elektrische Kommunikationstests von 155 Mb/s bis 400G PAM4 mit sub-100 Femtosekunden intrinsischem Jitter.
Produktdetails
| Modell | DSA8300 |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | Oszilloskope |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Überblick
Das Tektronix DSA8300 ist eine umfassende Hochgeschwindigkeits-PHY-Schicht-Test-Plattform für optische und elektrische Kommunikation. Mit intrinsischem Jitter unter 100 Femtosekunden und Unterstützung für Datenraten von 155 Mb/s bis 400G PAM4 bietet es präzise Signalcharakterisierung für norm-vorgeschriebene Konformitätsprüfungen in moderner Datenkommunikation.
Hauptmerkmale
- Intrinsisches Jitter: unter 100 Femtosekunden für außergewöhnliche Messgütigkeit
- Optische Module unterstützen 155 Mb/s bis 400G PAM4 Datenraten
- Optische Referenz-Empfänger (ORR) für norm-vorgeschriebene Konformitätsprüfungen
- Elektrische Abtaster mit wählbaren Bandbreiten (280 µV bei 20 GHz, 450 µV bei 60 GHz typisch)
- Integrierte TDR mit 10 ps typische Anstiegszeit
- Umfassende Jitter-, Rausch- und BER-Analyse von PAM4 und PAM2 NRZ Signalen
- 100G-SR4 Sender und TDEC (Transmitter Dispersion Eye Closure) Automatisierung
- Automatisierte Masken-Tests mit über 80 Industrie-Standard-Masken
- Unterstützung für neue und entstehende Standards durch benutzerdefinierte Masken-Einfuhr
- Hohe Muster-Erfassungsrate: bis zu 200 kS/s pro Kanal
- IEEE-488, Ethernet und lokale Prozessor-Schnittstellen
Anwendungen
- Optische Kommunikationstests und Konformitätsprüfung
- Kurzstrecken- und Langstrecken-Optikladapter-Charakterisierung
- 400G PAM4 Signalanalyse und Validierung
- Zeit-Domänen-Reflektometrie (TDR) und S-Parameter-Messungen
- Fertigungs- und Konformitätsvalidierungs-Tests
- Test von entstehenden Standards und Validierung
Technische Daten
| Intrinsic Jitter | Less than 100 femtoseconds |
| Optical Data Rate Range | 155 Mb/s to 400G PAM4 |
| Electrical Sampler Noise @ 20 GHz | 280 µV typical |
| Electrical Sampler Noise @ 60 GHz | 450 µV typical |
| TDR Step Rise Time | 10 ps typical |
| Sample Acquisition Rate | Up to 200 kS/s per channel |
| Standard Masks | Over 80 industry-standard masks |
| Measurement Functions | Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters |
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