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Tektronix DSA8300 Digitales Sampling-Analysator-Oszilloskop

Tektronix DSA8300 Digital Sampling Analyzer Oscilloscope

Tektronix · Modell: DSA8300 Auf Anfrage
Tektronix DSA8300 Digitales Sampling-Analysator-Oszilloskop
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Das Tektronix DSA8300 ist ein Hochgeschwindigkeits-Digital-Abtastoszilloskop für optische und elektrische Kommunikationstests von 155 Mb/s bis 400G PAM4 mit sub-100 Femtosekunden intrinsischem Jitter.

Modell DSA8300
Hersteller Tektronix
Kategorie Oszilloskope
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Überblick

Das Tektronix DSA8300 ist eine umfassende Hochgeschwindigkeits-PHY-Schicht-Test-Plattform für optische und elektrische Kommunikation. Mit intrinsischem Jitter unter 100 Femtosekunden und Unterstützung für Datenraten von 155 Mb/s bis 400G PAM4 bietet es präzise Signalcharakterisierung für norm-vorgeschriebene Konformitätsprüfungen in moderner Datenkommunikation.

Hauptmerkmale

  • Intrinsisches Jitter: unter 100 Femtosekunden für außergewöhnliche Messgütigkeit
  • Optische Module unterstützen 155 Mb/s bis 400G PAM4 Datenraten
  • Optische Referenz-Empfänger (ORR) für norm-vorgeschriebene Konformitätsprüfungen
  • Elektrische Abtaster mit wählbaren Bandbreiten (280 µV bei 20 GHz, 450 µV bei 60 GHz typisch)
  • Integrierte TDR mit 10 ps typische Anstiegszeit
  • Umfassende Jitter-, Rausch- und BER-Analyse von PAM4 und PAM2 NRZ Signalen
  • 100G-SR4 Sender und TDEC (Transmitter Dispersion Eye Closure) Automatisierung
  • Automatisierte Masken-Tests mit über 80 Industrie-Standard-Masken
  • Unterstützung für neue und entstehende Standards durch benutzerdefinierte Masken-Einfuhr
  • Hohe Muster-Erfassungsrate: bis zu 200 kS/s pro Kanal
  • IEEE-488, Ethernet und lokale Prozessor-Schnittstellen

Anwendungen

  • Optische Kommunikationstests und Konformitätsprüfung
  • Kurzstrecken- und Langstrecken-Optikladapter-Charakterisierung
  • 400G PAM4 Signalanalyse und Validierung
  • Zeit-Domänen-Reflektometrie (TDR) und S-Parameter-Messungen
  • Fertigungs- und Konformitätsvalidierungs-Tests
  • Test von entstehenden Standards und Validierung
Intrinsic Jitter Less than 100 femtoseconds
Optical Data Rate Range 155 Mb/s to 400G PAM4
Electrical Sampler Noise @ 20 GHz 280 µV typical
Electrical Sampler Noise @ 60 GHz 450 µV typical
TDR Step Rise Time 10 ps typical
Sample Acquisition Rate Up to 200 kS/s per channel
Standard Masks Over 80 industry-standard masks
Measurement Functions Jitter, noise, BER, mask testing, TDR, S-parameters
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