Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide-Bandgap SiC GaN Double-Pulse-Test-Anwendung
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test Application
Tektronix SUP5-WBG-DPT Double-Pulse-Test-Anwendung zur Charakterisierung und Analyse von Wide-Bandgap-SiC- und GaN-Halbleiterbauelementen auf MSO 5 Series Oszilloskopen.
Produktdetails
| Modell | SUP5-WBG-DPT |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | Oszilloskop-Zubehör |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Tektronix SUP5-WBG-DPT ist eine Messanwendung, die für die MSO 5 Series Oszilloskop-Plattform entwickelt wurde und umfassende Charakterisierung von Wide-Bandgap (WBG)-Halbleiterbauelementen wie Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN)-Komponenten ermöglicht. Die Double-Pulse-Test (DPT)-Methodik bietet genaue Bewertung von Bauteileistung, Schaltwirkung und thermischen Eigenschaften, die für die Leistungselektronik-Entwicklung unverzichtlich sind.
Hauptmerkmale
- Double-Pulse-Test-Methodik für umfassende Bauteile-Charakterisierung
- Unterstützung für SiC- und GaN-Wide-Bandgap-Halbleiterbauelemente
- Integrierte Analysetools für Schaltwirkung und Leistungsmetriken
- Nahtlose Integration in die MSO 5 Series Oszilloskop-Plattform
Anwendungen
- Wide-Bandgap-Halbleiterbauteile-Charakterisierung und Validierung
- Entwicklung von Stromwandlern und Umrichtern
- Schaltbauteile-Leistungsbewertung
- Forschung und Entwicklung in der Leistungselektronik
Technische Daten
| Application Type | Double Pulse Test (DPT) |
| Compatible Devices | SiC and GaN Wide-Bandgap Semiconductors |
| Compatible Platform | MSO 5 Series Oscilloscopes |
| License Type | NL (Non-Limited) |
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