Tektronix SUP4-WBG-DPT Breitbandhalbleiter-Doppelimpuls-Test
Tektronix SUP4-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test
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Tektronix SUP4-WBG-DPT ist eine Anwendung für Breitbandhalbleiter-Tests für 4 Series Oszilloskope und ermöglicht die Analyse von Doppelimpuls-Tests von SiC- und GaN-Halbleitern.
Produktdetails
| Modell | SUP4-WBG-DPT |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | Oszilloskop-Zubehör |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Der Tektronix SUP4-WBG-DPT ist eine Softwarelizenz, die die Charakterisierung von Breitbandhalbleitern (WBG) auf 4 Series Oszilloskopen ermöglicht. Die Doppelimpuls-Test (DPT) Anwendung ist speziell für Tests von Siliziumkarbid (SiC) und Galliumnitrid (GaN) Leistungshalbleitern konzipiert und ermöglicht die Analyse des dynamischen Schaltverhaltens und die Parameterextraktion.
Wichtigste Funktionen
- Doppelimpuls-Test-Analyse und Automatisierung
- SiC- und GaN-Halbleiter-Charakterisierung
- Extraktion dynamischer Schaltparameter
- Tests von Breitbandhalbleitern
- Kompatibilität mit Tektronix 4 Series Oszilloskopen
Anwendungen
- Charakterisierung von Leistungshalbleiter-Geräten
- Validierung und Qualifizierung von SiC- und GaN-Geräten
- Analyse des Schaltverhaltens
- Entwicklung und Tests von Leistungselektronik
Technische Daten
| License Type | Node-Locked |
| Compatibility | Tektronix 4 Series Oscilloscopes |
| Application | Wide Bandgap Semiconductor Double Pulse Test |
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