Tektronix SUP4-SV-BAS Spectrum View Messung und Analyse
Tektronix SUP4-SV-BAS Spectrum View Measurement and Analysis
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Tektronix SUP4-SV-BAS bietet Spektrum-Mess- und Analysefunktionen für Tektronix Oszilloskope mit node-locked Lizenzierung.
Produktdetails
| Modell | SUP4-SV-BAS |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | Oszilloskop-Zubehör |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Der Tektronix SUP4-SV-BAS ist ein Upgrade-Modul, das Spectrum View Mess- und Analysefunktionalität zu Tektronix Oszilloskopen hinzufügt. Dieses Modul ermöglicht Frequenzbereichs-Analyse und Messung von Signalspektren.
Wichtige Funktionen
- Spectrum View Frequenzbereichs-Analyse
- Echtzeitspektrum-Messung und -Anzeige
- Integrierte Analyse-Tools zur Signalcharakterisierung
- Node-locked Softwarelizenz
Anwendungen
- RF- und Mikrowellen-Signalanalyse
- Power-Integrity-Messungen
- Signalqualitäts-Bewertung
Technische Daten
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