Tektronix 5-DJA Fortgeschrittene Jitter- und Eye-Diagram-Analyse
Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis
Tektronix 5-DJA bietet fortgeschrittene Jitter-Analyse und Eye-Diagram-Messungen mit Echtzeit-Funktionen, Dual-Dirac-Dekomposition und Spektralanalyse zur Charakterisierung von Hochgeschwindigkeitssignalen.
Produktdetails
| Modell | 5-DJA |
| Hersteller | Tektronix |
| Kategorie | Oszilloskop-Zubehör |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Die Tektronix 5-DJA Advanced Jitter and Eye Diagram Analysis Option bietet branchenführende Empfindlichkeit und Genauigkeit für die Signalintegritätsanalyse in Echtzeit-Oszilloskopen. Auf dem bewährten Tektronix DPOJET Eye-Diagram und Jitter-Analyseprogramm basierend, integriert diese Option umfassende Jitter-Messung und Analyse direkt in das automatische Messsystem des Oszilloskops. Sie vereinfacht die Identifizierung von Signalintegritätsbedenken und Jitter-Quellen in Hochgeschwindigkeits-Serien-, Digital- und Kommunikationssystem-Designs.
Hauptmerkmale
- Grundlegende Zeit-Messungen einschließlich Periode, Frequenz, Anstiegs-/Abstiegszeiten, Impulsbreite und Tastverhältnis
- Time Interval Error (TIE) und Phasenrausch-Analyse
- Grafische Werkzeuge einschließlich Histogramme, Zeittrends und Spektrum-Anzeigen
- Programmierbare Software-Taktwiederherstellung mit konfigurierbarem PLL
- Wählbare Hoch- und Tiefpass-Messmessfilter
- Echtzeit-Eye-Diagram-Analyse mit automatischer Bitrate- und Mustererkennung
- Fortgeschrittene Jitter-Dekomposition mit spektralen und Q-Scale Methoden
- Dual-Dirac Modellparameter-Extraktion für branchenstandardisierte Jitter-Analyse
- Bounded Uncorrelated Jitter (BUJ) Algorithmen für genaue Total Jitter Messungen
- Eye-Diagram Masken-Tests und Badewannenkurven-Analyse
- Mehrere Plot-Typen: Zeittrend, Eye-Diagram, Histogramm, Spektrum, Badewannenkurve und SSC Profil
Anwendungen
- Quantifizieren Sie Signal-Amplituden- und Zeit-Parameter mit Margin-Analyse
- Debuggen Sie komplexe eingebettete Systeme und Hochgeschwindigkeits-Interfaces
- Charakterisieren Sie Hochgeschwindigkeits-Serien- und parallele Bus-Designs
- Messen Sie Takt- und Daten-Jitter/Rauschen und bewerten Sie Signalintegrität
- Charakterisieren Sie PLL dynamische Leistung
- Analysieren Sie Spread Spectrum Clock Circuit Modulation
- Bewerten Sie Jitter-Erzeugung, -Übertragung und -Toleranz in System-Designs
Technische Daten
| Jitter Measurement Methods | Spectral, Q-scale, dual-Dirac decomposition |
| Compatible Oscilloscope | Tektronix 5/6 Series MSO |
| Key Timing Measurements | Period, frequency, rise/fall time, pulse width, duty cycle, TIE, phase noise |
| Analysis Types | Eye diagram, jitter histogram, spectrum, bathtub curve, time trend, SSC profile |
| Clock Recovery | Programmable software PLL with configurable parameters |
| Special Algorithms | Bounded uncorrelated jitter (BUJ), dual-Dirac parameter extraction |
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Tektronix 5-DJA Fortgeschrittene Jitter- und Eye-Diagram-Analyse