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Keysight B2911A Mess- und Stromversorgungseinheit

Keysight B2911A Source Measure Unit

Keysight · Modell: B2911A Auf Anfrage
Keysight B2911A Mess- und Stromversorgungseinheit
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Keysight B2911A Einkanaleinheit zum Messen und Stromversorgen mit 210V Maximum Spannung, 3A DC und 10,5A Impulsstrom, 10 fA/100 nV Auflösung für Halbleiterprüfung.

Modell B2911A
Hersteller Keysight
Kategorie LCR- und Impedanzanalysatoren
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Überblick

Das Keysight B2911A ist eine kompakte Einkanaleinheit zur präzisen Messung und Stromversorgung, entwickelt für vielseitige IV-Messaufgaben mit hoher Genauigkeit und Auflösung. Sie bietet einen breiten Ausgangbereich von ±210 V, ±3 A DC und ±10,5 A Impulsstrom mit Messauflösungen von bis zu 10 fA für Strom und 100 nV für Spannung. Die integrierte Vier-Quadranten-Stromversorgung und Messfähigkeit ermöglichen genaue elektrische Charakterisierungen verschiedenster Geräte ohne mehrere Instrumente oder komplexe Aufbauten.

Die Einheit verfügt über ein intuitives 4,3-Zoll-Farbdisplay mit grafischem und numerischem Anzeigemodus, das schnelle Konfiguration und Datenvisualisierung direkt vom vorderen Bedienfeld ermöglicht. Eingebaute Arbitrary-Waveform-Erzeugung und Digitalisierungsfähigkeiten mit 10-Mikrosekunden-Intervallen bieten umfangreiche Flexibilität für dynamische elektrische Charakterisierung. Mehrere Software-Steuermöglichkeiten und SCPI-Befehls-Unterstützung ermöglichen nahtlose Integration in automatisierte Testumgebungen und unterstützen konventionelle SMU-Befehls-Kompatibilität.

Hauptmerkmale

  • Einkanaliges System mit 4-Quadranten-Stromversorgung und Messfähigkeit
  • Maximale 210 V Ausgang, 3 A DC / 10,5 A Impulsstrom
  • 10 fA/100 nV Quellen- und Messauflösung
  • Integrierte 4-Quadranten-Spannungs- und Stromfähigkeiten
  • 4,3-Zoll-Farbdisplay mit grafischem und numerischem Anzeigemodus
  • Arbitrary-Waveform-Erzeugung und Digitalisierung aus 10-Mikrosekunden-Intervallen
  • Hochdurchsatz-Messung mit SCPI-Befehls-Unterstützung
  • USB, LAN, GPIB und digitale E/A Schnittstellen für flexible Integration

Anwendungen

  • Optoelektronische Geräte-Charakterisierung (Laserdioden, Photodioden)
  • Organische Gerätevermessung (OLEDs)
  • Photovoltaik-Zellen-Charakterisierung
  • Nanotechnologie-Materialvermessung
  • Power-Management-Geräte-Prüfung (LDOs, Regler)
  • Halbleitergeräte-Charakterisierung (FETs, Transistoren, Dioden)
  • Bauelemente-Prüfung und Forschungs- und Entwicklungsanwendungen
High Frequency (range) DC <= 1kHz
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