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Keysight B1530A Wellenform-Generator/Schnellmesseinheit

Keysight B1530A Waveform Generator/Fast Measurement Unit

Keysight · Modell: B1530A Auf Anfrage
Keysight B1530A Wellenform-Generator/Schnellmesseinheit
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Keysight B1530A integriert Wellenformgenerierung und hochgeschwindigkeit IV-Messung mit dynamischer SMU-Technologie, eliminiert Lastlinieneffekte für genaue Impuls- und Übergangsmessungen.

Modell B1530A
Hersteller Keysight
Kategorie LCR- und Impedanzanalysatoren
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Übersicht

Die Keysight B1530A Wellenform-Generator/Schnellmesseinheit (WGFMU) ist ein spezialisiertes Modul für den B1500A Halbleiter-Parameteranalysator, das für ultraschnelle IV-, gepulste IV- und transiente IV-Messungen konzipiert ist. Sie integriert beliebige Wellenformgenerierung mit gleichzeitigen Hochgeschwindigkeitsmessfähigkeiten und verwendet Keysights proprietäre dynamische SMU-Technologie, um Lastlinieneffekte zu eliminieren, die traditionelle Impulsgenerator- und Oszilloskop-Kombinationen plagen.

Die B1530A spricht die kritische Notwendigkeit für genaue Charakterisierung von Halbleitergeräten der nächsten Generation an, besonders für zeitabhängige Zuverlässigkeitsmessungen, die in der fortgeschrittenen Geräteentwicklung zunehmend wichtig geworden sind.

Hauptmerkmale

  • Beliebige Wellenformgenerierung mit 10 ns programmierbarer Auflösung (10 V Spitzenwertleistung)
  • Hochgeschwindigkeit Spannungs-/Strommessung bei 200 MSa/s (5 ns Abtastrate)
  • Doppelkanalausgang für gleichzeitige Mehrpunktmessungen
  • Dynamische Bereichsfähigkeit für genaue Messung über weite Strombereiche
  • Lastlinieneffekt-freie Impuls- und Übergangsmessungen unter Verwendung dynamischer SMU-Technologie
  • Messauflösung mit Femtoampere-Ebenen-Empfindlichkeit

Anwendungen

  • Ultraschnelle NBTI (Negativ Bias Temperatur Instabilität) und PBTI (Positiv Bias Temperatur Instabilität) Charakterisierung
  • Random Telegraph Signal (RTN) Rausch-Messung
  • Fortgeschrittene Halbleiter-Zuverlässigkeitstests und Gerätecharakterisierung
  • Zeitabhängige Geräte-Parametermessung
Arbitrary Waveform Resolution 10 ns
Output Voltage 10 V peak-to-peak
Measurement Speed 200 MSa/s
Sampling Rate 5 ns
Channels 2 (dual)
Measurement Sensitivity Femtoamp level
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