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Keysight B1520A Multifrequenz-Kapazitätsmesseinheit

Keysight B1520A Multi-Frequency Capacitance Measurement Unit

Keysight · Modell: B1520A Auf Anfrage
Keysight B1520A Multifrequenz-Kapazitätsmesseinheit
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Keysight B1520A Multifrequenz-Kapazitätsmesseinheit (MFCMU) mit AC-Impedanzmessungen von 1 kHz bis 5 MHz, integriert mit optionaler 100 V Gleichspannungsvorspannung.

Modell B1520A
Hersteller Keysight
Kategorie LCR- und Impedanzanalysatoren
Verfügbarkeit Auf Anfrage

Übersicht

Die Keysight B1520A ist eine Multifrequenz-Kapazitätsmesseinheit (MFCMU) für den Keysight B1500A Halbleiter-Geräteanalysator. Sie erweitert die genaue AC-Impedanzmessungsfähigkeit über einen Frequenzbereich von 1 kHz bis 5 MHz mit minimaler 1 mHz Auflösung. Das Modul unterstützt Kapazitäts-Spannungs- (CV), Kapazitäts-Zeit- (C-t) und Kapazitäts-Frequenz- (C-f) Messungen und ermöglicht umfassende Charakterisierung von Halbleitern, Komponenten und fortschrittlichen Materialien.

Hauptmerkmale

  • Multifrequenz AC-Impedanzmessung von 1 kHz bis 5 MHz mit 1 mHz Mindestauflösung
  • Unterstützt CV (Kapazitäts-Spannungs), C-t (Kapazitäts-Zeit) und C-f (Kapazitäts-Frequenz) Messungen
  • Integrierte 25 V Gleichspannungsvorspannung mit optionaler Erweiterung auf 100 V durch SMU und SCUU Integration
  • Mehrere Messparameter: Cp-G, Cp-D, Cp-Q, Cp-Rs, Cs-Rs, Cs-D, Cs-Q, Lp-G, Lp-D, Lp-Q, Lp-Rs, Ls-Rs, Ls-D, Ls-Q, R-X, G-B, Z-θ, Y-θ
  • Automatisierte IV/CV Verbindungsumschaltung über optionale SMU CMU Einheitlich Unit (SCUU)
  • Bis zu 1001 Abtastpunkte in CV, C-f und C-t Messungen

Anwendungen

  • Präzise Kapazitäts-Spannungs-Charakterisierung von Halbleitergeräten
  • Integrierte IV- und CV-Messung für umfassende Geräte-Parameteranalyse
  • Charakterisierung von aktiven und passiven Komponenten
  • Messung und Validierung von Materialparametern
Frequency Range 1 kHz to 5 MHz
Frequency Resolution 1 mHz
AC Signal Level Up to 250 mVrms
Built-in DC Bias 25 V
Optional DC Bias (with SCUU) 100 V
Measurement Functions CV, C-t, C-f
Sweep Points Up to 1001 in CV, C-f, C-t
Measurement Parameters Cp-G, Cp-D, Cp-Q, Cp-Rs, Cs-Rs, Cs-D, Cs-Q, Lp-G, Lp-D, Lp-Q, Lp-Rs, Ls-Rs, Ls-D, Ls-Q, R-X, G-B, Z-θ, Y-θ
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