Keithley 2520 gepulstes Laserdioden-Testsystem

Übersicht

Das Keithley 2520 Pulsed Laser Diode Test System ist ein integriertes, synchronisiertes System, das zum Testen von Laserdioden früh im Fertigungsprozess konzipiert ist, bevor Verpackung oder aktive Temperaturkontrolle angewendet wird. Es kombiniert alle erforderlichen Quell- und Messfunktionen für gepulste und kontinuierliche LIV- (Light-Current-Voltage) Tests in einem kompakten Halbrack-Instrument. Die enge Synchronisation zwischen Quelle und Messung gewährleistet hohe Genauigkeit auch bei Pulsdauern von nur 500ns, was es ideal für die In-Prozess-Produkt-Prüfung von Laserdioden auf Chip- oder Balkenebene macht.

Hauptmerkmale

• Integrierte Lösung für gepulste und kontinuierliche LIV-Tests von Laserdioden
• Pulsfähigkeit bis zu 5A; DC-Fähigkeit bis zu 1A
• Programmierbare Pulsonzeit von 500ns bis 5ms mit bis zu 4% Tastverhältnis
• 14-Bit Messgenauigkeit auf drei Messkanälen (VF, vordere Photodiode, hintere Photodiode)
• Synchronisierte DSP-basierte Messkanäle für hochgenaue Lichtintensitäts- und Spannungsmessungen
• Bis zu 1000-Punkt-Sweep im Pufferspeicher, um GPIB-Datenverkehr während Tests zu eliminieren
• Messalgorithmus erhöht das Signal-Rausch-Verhältnis der Pulsmessung
• Digital-I/O Bin- und Handling-Operationen
• Sweep kann so programmiert werden, dass er bei Lichtleistungsgrenzwert stoppt
• IEEE-488 und RS-232 Schnittstellen

Anwendungen

• Produkt-Prüfung von Laserdioden auf Chip- oder Balkenebene
• Frühe Fertigungs-Qualitätssicherung vor Verpackung
• Optische Leistungs- und elektrische Charakterisierung von Laserdioden
• Gepulste und DC-Prüfung von Halbleiter-Optikquellen

Mitgelieferte Zubehörteile

• Benutzerhandbuch
• Schnellreferenzleitfaden
• Triax-Kabel (Menge 2)
• BNC 10W Koaxialkabel (Menge 4)