Stanford Research Systems SR620 Universeller Zeit-/Frequenzzähler
Stanford Research Systems SR620 Universal Time Interval/Frequency Counter
Stanford Research Systems SR620 Zeit-/Frequenzzähler mit 25 ps Auflösung, 1,3 GHz Bereich, 11-stelliger Frequenzauflösung und Statistikfunktionen für Labor- und ATE-Anwendungen.
Produktdetails
| Modell | SR620 |
| Hersteller | Stanford Research Systems |
| Kategorie | Frequenzzähler |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Überblick
Der Stanford Research Systems SR620 ist ein universeller Zeit-Intervall- und Frequenzzähler für Labor- und automatisierte Testausrüstungsanwendungen (ATE). Er führt praktisch alle in einer Laborumgebung erforderlichen Zeit- und Frequenzmessungen mit außergewöhnlicher Genauigkeit durch. Die 25-ps-RMS-Einzelschuss-Timing-Auflösung und das geringe Jitter machen ihn zu einem der höchstauflösenden verfügbaren Zähler, geeignet für Anwendungen vom Jitter-Analyse phasenverriegelter Schleifen bis zu Langzeit-Driftmessungen von Atomuhren.
Hauptmerkmale
- 25-ps-Einzelschuss-Timing-Auflösung mit geringem Jitter
- Frequenzmessung von 0,001 Hz bis 1,3 GHz
- 11-stellige Frequenzauflösung in 1 Sekunde
- Zeit-Intervall-, Perioden-, Pulsdauer-, Anstiegs-/Abfallzeit- und Phasenmessungen
- Grafische Ausgabe: Histogramme, Streifen-Diagramme und Jitter-Diagramme auf dem Oszilloskop oder Plotter
- Statistikberechnung: Mittelwert, Standardabweichung, Allan-Varianz, Min/Max
- Flexible Auslöse- und Triggering-Optionen
- Integrierte Selbstkalibrierung zur Aufhebung von Einfügungsverzögerungen
- Präzisions-1-kHz-Referenzausgang mit 50%-Arbeitszyklus
- GPIB (IEEE-488.2) und RS-232-Schnittstellen
- Zwei DVM-Eingänge (±20 VDC bei 0,3% Genauigkeit) und zwei DAC-Ausgänge
- Optionale beheizte Zeitbasis mit verbesserter Langzeitstabilität
Anwendungen
- Analyse von phasenverriegelten Schleifen und Jitter
- Messung von Atomuhren-Drift und Stabilität
- Verifikation von Frequenz- und Zeitnormalen
- Automatisierte Testausrüstung (ATE) und Produktionstests
- Charakterisierung von Oszillator- und Kristallstabilität
Technische Daten
| Single-Shot Resolution | 25 ps rms |
| Frequency Range | 0.001 Hz to 1.3 GHz |
| Frequency Resolution | 11 digits (1s gate) |
| Measurement Types | Time interval, frequency, pulse-width, rise/fall time, period, phase, events |
| Gate Options | 1 period to 500 seconds |
| DVM Inputs | ±20 VDC, 0.3% accuracy |
| DAC Outputs | 0 to 10 V (2 channels) |
| Graphical Display Points | Up to 250 strip-chart points or histogram bins |
| Interfaces | GPIB (IEEE-488.2), RS-232, parallel printer |
| Reference Output | 1 kHz, 50% duty cycle |
| Standard Timebase Aging | 1 x 10^-6/year |
| Optional Ovenized Timebase Aging | 5 x 10^-10/day |
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Stanford Research Systems SR620 Universeller Zeit-/Frequenzzähler