Hioki 3504-50 C Hi-Tester
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Das Hioki 3504-50 ist ein C Hi-Tester mit GP-IB-Schnittstelle und Binning-Funktion, mit einer Messdauer von 2 ms und konstanter Spannungsfähigkeit.
Produktdetails
| Modell | 3504-50 |
| Hersteller | Hioki |
| Kategorie | Elektroprüfer |
| Verfügbarkeit | Auf Anfrage |
Beschreibung
Übersicht
Das Hioki 3504-50 ist ein vielseitiger C Hi-Tester für Komponententest- und Sortieranwendungen. Es bietet konstante Spannungsmessfähigkeit (1V oder 500mV) und eignet sich für das Testen von Komponenten mit spannungsabhängigen Eigenschaften. Das Gerät verfügt über GP-IB-Schnittstellenkonnektivität zur Integration in automatisierte Testsysteme und eine Binning-Funktion zum Komponentensortieren mit bis zu 14 Klassifizierungsrängen.
Hauptmerkmale
- Schnelle minimale Messzeit von 2 ms
- Konstante Spannungsmessung mit 1V oder 500mV
- Binning-Funktion mit bis zu 14 Klassifizierungsrängen
- Speicher für 99 Messbedingungssätze
- GP-IB-Schnittstelle für Systemintegration
- LED-Anzeige und einfache Bedienung
- Trigger-synchrone Ausgabefunktion
Anwendungen
- Komponentensortierung und Klassifizierung
- Produktionslinienintegration und automatisiertes Testen
- Qualitätssicherung und Komponentenverifikation
Technische Daten
| Measurement Speed | 2 ms |
| Measurement Voltage | 1V or 500mV |
| Binning Ranks | Up to 14 |
| Condition Memory | 99 sets |
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Hioki 3504-50 C Hi-Tester
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