Tektronix BSA260C Bit-Fehlerquoten-Tester

Übersicht

Der Tektronix BSA260C BERTScope Bit-Fehlerquoten-Tester bietet umfassende Signalintegritätsmessungen für Hochgeschwindigkeits-Seriendatensysteme. Er verbindet Augenbild-Analyse mit BER-Mustergenerierung, um eine schnelle Isolierung problematischer Bit- und Mustersequenzen zu ermöglichen und anschließend weitere Analysen mit fortgeschrittenen Fehleranalyseverfahren durchzuführen.

Hauptmerkmale

• Mustergenerierung und Fehleranalyse mit Hochgeschwindigkeits-BER-Messungen bis 28,6 Gb/s
• Schnelle Eingangsanstiegszeit und hohe Eingangs-Bandbreitenfehler-Detektor für genaue Signalintegritätsanalyse
• Integrierte Augenbild-Analyse mit BER-Korrelation
• Patentierte Error Location Analysis™ für schnelles Verständnis von BER-Leistungsbegrenzungen
• Umfassende Jitter-Zerlegung einschließlich Long-Pattern (PRBS-31) Jitter-Analyse
• Integrierte kalibrierte Stress-Generierung mit sinusoidaler Jitter bis 100 MHz
• Physical-Layer-Test-Suite mit Mask-Testing, Jitter-Peak, BER-Kontur und Q-Faktor-Analyse
• Unterstützung für Standard-Jitter-Toleranz-Vorlagen und benutzerdefinierte Bibliotheken

Anwendungen

• PCIe 2.0 & 3.0 Empfänger-Tests
• 10/40/100 Gb Ethernet elektrische Stress-Augenbild-Tests
• Fibre Channel (FC8, FC16, FC32) und IEEE 802.3ba Tests
• SFP+/SFI, OIF/CEI und InfiniBand (SDR, QDR, FDR, EDR) Signalintegritätsanalyse
• SATA, USB 3.1 und andere Serial-Data-Protokoll-Tests